CS19010局部放電測(cè)試儀

簡(jiǎn)要描述：CS19010系列局部放電測(cè)試儀是一款適用于高壓隔離集成電路（如光耦、磁耦、隔離放大器、隔離式數(shù)字通信芯片）、半導(dǎo)體高壓開(kāi)關(guān)（如IGBT、MOSFET），及高壓絕緣組件（如隔離基板）、低容值高壓電容器等器件局部放電和耐壓測(cè)試的綜合測(cè)量設(shè)備，可實(shí)現(xiàn)0.1kV~10kV范圍內(nèi)耐壓測(cè)試和局部放電測(cè)試

更新時(shí)間：2024-06-12

產(chǎn)品型號(hào)：

所屬分類：CS安規(guī)測(cè)試儀

訪問(wèn)量：516

聯(lián)系我們 在線咨詢

      CS19010系列局部放電測(cè)試儀是一款適用于高壓隔離集成電路（如光耦、磁耦、隔離放大器、隔離式數(shù)字通信芯片）、半導(dǎo)體高壓開(kāi)關(guān)（如IGBT、MOSFET），及高壓絕緣組件（如隔離基板）、低容值高壓電容器等器件局部放電和耐壓測(cè)試的綜合測(cè)量設(shè)備，可實(shí)現(xiàn)0.1kV~10kV范圍內(nèi)耐壓測(cè)試和局部放電測(cè)試。

      CS19010系列局部放電測(cè)試儀采用試品串聯(lián)耦合測(cè)量模式，測(cè)試方法符合通用局放測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)GB/T 7354-2018 （IEC60270：2000），同時(shí)也符合特定器件的局放測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)，如光隔離器安全標(biāo)準(zhǔn)（IEC60747-5-5）、數(shù)字隔離器安全標(biāo)準(zhǔn)（IEC60747-17）、低電壓設(shè)備安全標(biāo)準(zhǔn)（IEC60664-1）、半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)組件標(biāo)準(zhǔn)（IEC 60747-15）等；具有自定義高壓輸出波形、多種測(cè)量條件合格判斷功能，用戶可根據(jù)需求柔性組合，實(shí)現(xiàn)0.01uA~1mA泄漏電流測(cè)量和1pC~200pC局部放電測(cè)量，可滿足大多數(shù)集成隔離器件和高絕緣材料的產(chǎn)品品質(zhì)測(cè)試需求。

      CS19010系列局部放電測(cè)試儀的主要應(yīng)用領(lǐng)域：（1）工業(yè)生產(chǎn)，依據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)在高壓器件（組件）生產(chǎn)過(guò)程中進(jìn)行局部放電常規(guī)測(cè)試或現(xiàn)場(chǎng)診斷測(cè)試；（2）科學(xué)研究，對(duì)高壓絕緣材料進(jìn)行局部放電特性研究或絕緣劣化過(guò)程研究。